深圳專業(yè)掃描電子顯微鏡+X射線能譜儀(SEM+EDS

產(chǎn)品特點(diǎn) 掃描電子顯微鏡+X射線能譜儀(SEM+EDS)     掃描電子顯微鏡利用二次電子或背散射電子成像，對樣品表面放大一定的倍數(shù)進(jìn)行形貌觀察，最大放大倍數(shù)可達(dá)30萬倍，同時利用電子激發(fā)出樣品表面的特征X射線來對微區(qū)的成分進(jìn)行定性定量分析 測試范圍： SEM的二次電子成像分辨率約3nm 背散射電子成像分辨率約300nm EDS成分分析的元素......