少子壽命
所有分類下結果單點少子壽命測試儀
[中介]HS-CLT少子壽命測試儀是一款功能異常強大的少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規則形狀硅少子壽命的測量。少子測試量程從1μs到2000
無接觸少子壽命掃描儀
[中介]HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平
PL光致發光測試系統
[中介]產品介紹:
Helios-PL光致發光測試系統能夠對多種太陽能電池少子壽命進行快速二維分析，能夠準確的測量和計算出電池的缺陷分布及密度，同時準確反饋結果以很好的改進電池的生產工藝。
[北京 儀器儀表]
單點少子壽命測試儀
[中介]HS-CLT少子壽命測試儀是一款功能異常強大的少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規則形狀硅少子壽命的測量。少子測試量程從1μs到2000
無接觸少子壽命掃描儀
[中介]HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平
PL光致發光測試系統
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Helios-PL光致發光測試系統能夠對多種太陽能電池少子壽命進行快速二維分析，能夠準確的測量和計算出電池的缺陷分布及密度，同時準確反饋結果以很好的改進電池的生產工藝。
[北京 儀器儀表]
